Erfolgreicher Abschluss des AiF-Projektes 17179 N
Die Entwicklung moderner elektronischer Kommunikationssysteme ist von zwei Haupttrends geprägt. Zum einen basieren moderne Funkdienste auf der Nutzung immer höherer Frequenzen und zum anderen ist eine stetig wachsende Anzahl zu integrierender Funkdienste in einem Gerät zu beobachten. Dies bedingt eine stetig zunehmende Integrationsdichte der elektronischen Schaltungen. Dies betrifft insbesondere auch die Antennen, deren volumeneffiziente Integration, möglichst ohne Leistungseinbußen, vom Anwender erwartet wird. Eine Verwendung der Gehäuseflächen als Träger für Hochfrequenzschaltungen sowie Antennen stellt eine solche Lösung dar. Die Molded Interconnect Device (MID) Technologie erlaubt es, räumlich spritzgegossene Kunststoffteile mit einer Metallisierung zu versehen und diese so als Schaltungs und Antennenträger zu nutzen. In der letzten Zeit haben die Laser Direkt Strukturierbaren (LDS) MID-Materialien für eine verstärkte Anwendung dieser Technologie gesorgt.
Um die Verwendung der MID Materialien für Hochfrequenzanwendungen besser zu erschließen, ist es notwendig, die spezifischen Materialparameter möglichst genau zu kennen. Da diese Parameter selbst für marktübliche Materialien bislang nicht systematisch erfasst wurden, hat das Institut für Hochfrequenztechnik und Funksysteme der Leibniz Universität Hannover im Rahmen des Forschungsprojektes – Charakterisierung der Hochfrequenz-Eigenschaften von LDS-MID – eine grundlegende Untersuchung an einer typischen Auswahl von Materialien durchgeführt. Dabei erfolgte eine Charakterisierung und Bewertung der dielektrischen Materialeigenschaften sowie des Metallisierungsprozesses.
Eingebettet ist dieses Projekt in die Forschungsaktivitäten der Forschungsvereinigung 3-D MID e.V. (www.3d-mid.de), welche sich interdisziplinär mit der Förderung und Weiterentwicklung der MID Technologie befasst.
Material | Bezeichnung | Hersteller |
Polycarbonate/Actylnitril Butadien Styrol (PC/ABS) |
XANTAR LDS 3720 XANTAR LDS 3732 |
Mitsubishi Enineering- Plastics Europe BV |
Polyphthalamid (PPA) | VESTAMID HT plus M1033 | Evonik Industries AG |
Polyamid (PA) – mit Glasfaser verstärkt |
Grilamid 1SVX-50H LDS | EMS-CHEMIE AG |
Liquid Crystal Polymer (LCP) | Vectra E840i LDS | Ticona GmbH |
Für die Messungen wurden verschiedene Messverfahren und –vorrichtungen eingesetzt, welche zum einen den angestrebten Frequenzbereich von 100 MHz bis 80 GHz möglichst gut abdecken und zum anderen auch eine Kontrolle der Messungen untereinander ermöglichen. Im Rahmen des Projektes wurden einzelne Messvorrichtungen in ihrem Frequenzbereich erweitert. Bild 3 zeigt exemplarisch die mit Resonatorverfahren ermittelten Messergebnisse der Permittivität für alle vermessenen Materialien im Frequenzbereich von 2,7 GHz bis 65 GHz. Es ist zu beachten, dass alle vermessenen LDS-Materialien mit Ausnahme des PC/ABS (XANTAR LDS 3720 / XANTAR LDS 3732) eine Abhängigkeit der Materialeigenschaften von der Raumrichtung aufweisen. Diese Abhängigkeit die teilweise auch bei Standardträgermaterialien zu beobachten ist, entsteht durch Füllstoffe im Material und den Spritzprozess. Dies wurde bei der Vermessung berücksichtigt.
Auswertung
Um die prinzipielle Eignung der LDS MID Materialien für die Verwendung als Hochfrequenzsubstrat zu untersuchen, wurden die Materialuntersuchungen im Frequenzbereich 100 MHz bis 67 GHz durchgeführt. Die Werte für den Realteil der Permittivität ε liegen für die LDS-Kunststoffe im Bereich von 2,5 bis 5,5 und damit in einem Bereich wie er für Kunststoffe dieser Art zu erwarten ist. Der Zusatz der LDS-Metallkomplexe sorgt wenn überhaupt lediglich für geringe Veränderungen von ε. Die Materialien sind damit für eine Anwendung als Hochfrequenzsubstrat gut geeignet.
Bei der Betrachtung des Verlustfaktors (tan δ) ergibt sich eine Streuung der Werte von 0,003 bis zu 0,015. Im Frequenzbereich ab 60 GHz ist ein deutlicher Anstieg zu erkennen. Die Werte der Verlustfaktoren liegen zwar über den üblichen Werten von speziellen Hochleistungsträgermaterialien, jedoch noch in einer Größenordnung, die eine Verwendung als HF-Schaltungs- bzw. Antennenträger gut zulässt.
Metallisierung
Die Metallisierung der LDS-Materialien ist bei der Beurteilung der Hochfrequenzeignung dieser Technologie mit einzubeziehen, da beispielsweise die Dämpfungseigenschaften von Hochfrequenzleitungen von der Oberflächenrauheit des Leiters abhängen. Daher wurden im Rahmen des o.g. Projektes Metallisierungsuntersuchungen durchgeführt. Dafür wurden Koplanarleitungsstrukturen verschiedener Leitungslängen metallisiert und bezüglich ihrer Dämpfungseigenschaften vermessen.
Bild 4 zeigt die Dämpfungskonstante α für verschiedene Metallisierungszusammensetzungen der Leiterbahnen. Es ist zu erkennen, dass sich die Dämpfungseigenschaften der Kupfer- bzw. Kupfer/Nickel/Gold-Leitungen im Frequenzbereich bis etwa 15 GHz kaum unterscheiden. Bei höheren Frequenzen steigt die Dämpfung der Leitungen, die mit Kupfer und einer Oberfläche aus Nickel versehen sind, aufgrund des Skineffektes stärker an. Der Unterschied bei 60 GHz beträgt dann etwa 0,3 dB/cm. Die besten Dämpfungseigenschaften zeigt die mit galvanisch aufgebrachtem Silber verstärkte Probe. Sie weist bei 60 GHz einen im Vergleich zu reinem Kupferaufbau um etwa 0,25 dB/cm geringeren Wert der Dämpfungskonstante auf.
Abschließend ist festzustellen, dass die Einflüsse der Metallisierung im Frequenzbereich bis etwa 15 GHz gering sind. Bei der Betrachtung zukünftiger Anwendungen im Bereich höherer Frequenzen sollte jedoch eine geeignete Wahl der Metallisierung aufgrund der Dämpfungseigenschaften berücksichtigt werden.
Antennenrealisierung
Zur Verifikation und Veranschaulichung der Güte der gewonnen Messergebnisse erfolgte die Realisierung von Patchantennen im ISM Band bei 5,8 GHz. Bild 1 (rechts) zeigt exemplarisch eine auf dem LDS Material Xantar LDS 3720 realisierte Patchantenne. Bild 5 und 6 zeigen die Simulations- und die dazugehörigen Messergebnisse für den Betrag der Eingangsanpassung |S11| sowie den Antennengewinn G bei 5,8 GHz. In Bild 5 ist deutlich zu erkennen, dass die auf Basis der gewonnenen Materialdaten simulierte Resonanzfrequenz der Antenne, in ausgezeichneter Weise mit dem Messwert übereinstimmt. Das gleiche gilt für die in Bild 6 dargestellten Strahlungseigenschaften der Antenne.
Kontakt